布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀
名稱:其他儀器與工具
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簡介:布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質,與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe...
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