思看 TrackScan-P542 跟蹤式三維掃描系統
名稱：3D三維掃描儀
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型號：
簡介：TrackScan-P系列跟蹤式三維掃描系統TrackScan-P 系列跟蹤式三維掃描系統由三維掃描儀和i-Tracker光學跟蹤器組成，采用智能光學跟蹤測量技術，配備超高分辨率智能相機，無需貼點即可完成超高精度動態三維測量，可在航空航天、...
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- 產品介紹
TrackScan-P系列跟蹤式三維掃描系統
TrackScan-P 系列跟蹤式三維掃描系統由三維掃描儀和i-Tracker光學跟蹤器組成，采用智能光學跟蹤測量技術，配備超高分辨率智能相機，無需貼點即可完成超高精度動態三維測量，可在航空航天、汽車制造、軌道交通、模具制造等行業滿足質量控制、產品開發、逆向工程、自動化測量等多樣需求。
TrackScan-P 系列三維掃描系統可搭配補光模塊，光照更均勻，支持鈑金件的圓、槽及機加孔精準測量；搭配T-Probe 跟蹤式測量光筆工作，能精準獲取工件的邊界、圓、槽等特征；與機器人協同工作，實現智能在線自動化批量三維檢測。
無需貼點
極速高效
邊界檢測
無限測量
邊界檢測 精準測量
新一代孔測技術，自動提取孔特征，無需導入CAD即可快速測孔，大大提升了孔測適應性及便捷性。
灰度值邊界測量功能，搭配可拆卸式補光模塊，光照更均勻，支持鈑金件的圓、槽及機加孔精準測量，保證對應孔的位置度和孔徑的重復性精度。
極速高效 無懼細節
基于不同的掃描場景需求，TrackScan-P系列可自由切換多種工作模式。高速掃描模式，掃描速率最高可達2,600,000次測量/秒；7束平行藍色激光精細掃描，極致細節，精度可達0.025mm，滿足各類工業測量需求；單束藍色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數據。
無需貼點 智能跟蹤
基于智能光學跟蹤測量技術，TrackScan-P 系列跟蹤式三維掃描系統無需貼點、即刻掃描，大幅提升工作效率、降低人力物力成本。
環境感知 超強適應
采用航空航天級碳纖維材質，穩定可靠，不易受環境、震動、溫度等外界因素影響；具有超強環境適應性，輕松獲取光亮、黑色材質物體三維數據。
多樣適配 無限測量
支持多模式工作，多臺跟蹤頭級聯工作擴展掃描范圍，有效應對大型工件掃描場景。
搭配T-Probe 跟蹤式測量光筆，支持多測針適配，單點重復性0.030 mm，獲取基準孔、隱藏點等關鍵部位的精準數據。
搭配無線傳輸模塊AirGO Pro工作，在移動端同步投屏展示數據結果，獲得更為靈活便攜的三維掃描體驗。
與機器人協同工作，搭建自動化三維測量系統AM-CELL，實現高效、批量化測量。
i-Tracker配合工具模擬器及路徑規劃軟件，構成M-Track機器人路徑智能規劃引導系統，賦予機器人“雙眼”和“大腦”。
技術規格
| 型號 | TrackScan-P550 | TrackScan-P542 | |
| 掃描模式 | 高速掃描 | 42束交叉藍色激光線 | 34束交叉藍色激光線 |
| 精細掃描 | 7束平行藍色激光線 | ||
| 深孔掃描 | 額外1束藍色激光線 | ||
| 精度(1) | 最高 0.025 mm | ||
| 最大掃描速率 | 2,600,000 次測量/秒 | 2,200,000 次測量/秒 | |
| 最大掃描面幅 | 500 mm × 600 mm | ||
| 激光類別 | ClassⅡ（人眼安全） | ||
| 最高分辨率 | 0.020 mm | ||
| 體積精度(2) | 10.4 m3 | 0.060 mm | |
| 18 m3 | 0.075 mm | ||
| 體積精度（配合MSCAN全局攝影測量系統） | 0.044 mm + 0.012 mm/m | ||
| T-Probe跟蹤式測量光筆單點重復性 | 0.030 mm | ||
| 孔位置精度 | 0.050 mm | ||
| 掃描物體尺寸范圍（建議） | 100–8000 mm | ||
| 基準距 | 300 mm | ||
| 景深 | 400 mm | ||
| 輸出格式 | .stl, .ply, .obj, .igs, wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc等，可定制 | ||
| 工作溫度 | -10–40°C | ||
| 工作濕度（非冷凝） | 10–90% RH | ||
| 接口方式 | USB 3.0 | ||
| 認證 | CE, UL | ||
| 專利技術 | CN106500627，CN106500628，CN206132003U，CN204854633U，CN204944431U，CN204902788U，CN204963812U，CN204902785U，CN106403845，US10309770B2，CN204854633U，CN105068384B，CN105049664B，CN106403845B，CN214375417U，CN214379242U，CN214379241U，CN109000582B，CN112802002B，CN210567185U，CN211121096U，CN214149174U，CN114001671B，CN114001696B，CN114554025B，CN114205483B，US10309770B2，US11060853B2，KR102096806B1，EP3392831B1 | ||
(1) ISO 17025實驗室認可：依據VDI/VDE 2634 part3 標準和JJF 1951規范，對尺寸探測誤差（PS）性能進行評估。
(2) ISO 17025實驗室認可：依據VDI/VDE 2634 part3 標準和JJF 1951規范，對球心距測量誤差（SD）性能進行評估。
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