美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發儀(VST)
名稱：信號發生器
品牌：美國NI
型號：PXIe-5860
簡介：美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發儀(VST)是具有1GHz瞬時帶寬的雙通道8.5 GHzPXI矢量信號收發儀(VST)。該VST將兩個矢量信號發生器和兩個矢量信號分析儀組合成一個雙槽PXIExpress儀器。PX...
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美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發儀(VST)是具有1GHz瞬時帶寬的雙通道8.5 GHzPXI矢量信號收發儀(VST)。該VST將兩個矢量信號發生器和兩個矢量信號分析儀組合成一個雙槽PXIExpress儀器。PXle-5860不僅具備高密度、快速的測量速度和小巧的生產測試儀器組成結構,同時還擁有研發級盒式儀器的靈活性和高性能。可使用VST對蜂窩和無線標準(例如，Wi-Fi7和5GNR)執行誤差矢量幅度(EVM)測試。通過PXle-5860的通道密度、頻率覆蓋范圍和帶寬可用性，您還可以為各種半導體和電子生產應用執行多站點和多通道測試。
RF發生器頻率范圍: 50 MHz 至 8.5 GHz
RF發生器瞬時帶寬: 1 GHz
RF分析儀頻率范圍: 50 MHz 至 8.5 GHz
RF分析儀瞬時帶寬: 1 GHz
發生器調諧時間（典型）: 150 us
I/O Type: RF
美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發儀(VST)采用創新的射頻直采架構，儀表體積縮小一半，射頻性能不妥協。
?雙通道、高帶寬
1臺儀器提供2個矢量信號源和2個矢量信號分析儀功能，支持50MHz–8.5GHz 超寬頻段 和1GHz瞬時帶寬 ，輕松覆蓋Wi-Fi 7、5G/6G 通信等需求。
?射頻直采架構優勢
創新射頻儀表設計，射頻直采架構，大大簡化射頻前端設計，無需本振，頻率調諧更快，且沒有本振泄漏和邊帶鏡像問題。
頻率設定時間: ≤150μs
幅度設定時間(<最終值0.1dB): 27μs
?極致信號質量
輸出功率 高達22dBm（@3GHz） ，滿足高強度發射場景；
分析端EVM低至-55dB（5G NR FR1，100MHz）或-48dB（Wi-Fi 7 320 MHz信號）
本底噪聲-166dBm/Hz（50MHz-7.5GHz，輸出功率-30dBm）
?模塊化設計，靈活擴展
僅需2個PXIe槽位 ，相同機箱大小可以提供更高測試密度，適配產線批量測試，MIMO測試、多DUT并行驗證等場景 。
?開放軟件生態
原生支持 LabVIEW、Python、C#，集成 RFmx測量套件實現調制信號生成和分析，一鍵生成標準化測試報告；
?利用雙通道完成Cross Correlation提升EVM測試結果
通過控制PXIe-5860的2個獨立的射頻通道（相當于2臺寬帶射頻信號分析儀），利用NI專利技術測量超寬帶信號的真實被測設備（DUT）的EVM，以消除所獲得的射頻信號中的不相關噪聲，同時可計算由待測設備產生的噪聲和損傷引起的真實EVM，可以實現更準確的EVM測量，并具有比單一射頻接收機更高的性能，提升約2dB。該方法已在實際項目中成功應用。
硬件配置：
軟件界面：
?Wi-Fi 7產線測試：320 MHz超寬帶信號并行測試，EVM指標 低至-48 dB ；
美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發儀(VST)集成了信號生成和分析功能。PXIe-5860具有兩個獨立的TX/RX通道，支持最高8.5GHz的測試頻率和1GHz的信號帶寬。憑借卓越的RF性能和解調能力，該設備是Wi-Fi設備生產測試的理想選擇。
我們可以演示一臺VST上完成兩個站點的并行大幅提升測試效率、提高單位小時產量（UPH）并節省測試成本。一臺VST 實現雙站點測試，在演示程序中，測試時間得到優化，如CHP 總測試時間為3ms，IM3總測試時間為 3.76ms等，該方法已在部分量產項目中得到應用。
硬件配置：
軟件界面：
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